照射施設用 情報 (1) 照射 Log, ビーム調整
以下は、当チームが行っている「ビーム調整」「マシンスタディ」などに関する内部資料です。
が、他の照射施設の皆様や、これから利用を検討されている企業様にも有用な情報かもしれませんので、
敢えて掲載しておきます。
論文発表などと異なり、内容の信憑性が不十分な部分があるかもしれませんので、取扱いにはご注意ください。
論文発表などと異なり、内容の信憑性が不十分な部分があるかもしれませんので、取扱いにはご注意ください。
照射ログ
有償利用者に提出している最近の照射ログです。
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・2024.10 Ar 95 MeV/u
技術報告
ビーム調整
・2024.10 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 ・2024.07 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 ・2024.04 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 ・2024.02 Xe 36 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2024.02 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2024.01 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2024.01 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.12 Xe 36 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.12 C 135 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.12 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.12 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.10 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.10 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.07 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.07 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.05 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.05 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.02 C 135 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.01 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.01 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2023.01 Xe 35 MeV/u MS-2 技術報告 ビーム調整 RunLog MT委員会報告 ・2022.12 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.12 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.10 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.10 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.09 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.06 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.03 Xe 10.75 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog Xe紹介(2) ・2022.03 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.03 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.01 Xe 10.75 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog Xe紹介(1) ・2022.01 Ar 95 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2022.01 Kr 70 MeV/u 技術報告 ビーム調整 RunLog ・2021.11 Kr 70 MeV/u 技術報告 RunLog ・2021.10 Ar 95 MeV/u 技術報告 RunLog ・2021.09 C 135 MeV/u MS-2 RunLog MT委員会報告 ・2021.07 C 135 MeV/u MS-1 RunLog ・2021.05 Ar 95 MeV/u 技術報告 RunLog ・2021.05 Kr 70 MeV/u 技術報告 RunLog ・2021.02 Kr 70 MeV/u 技術報告 RunLog ・2021.01 Ar 95 MeV/u 技術報告 RunLog ・2021.01 Kr 70 MeV/u 技術報告 RunLog ・2020.12 Ar 95 MeV/u 技術報告 RunLog ・2020.12 Kr 70 MeV/u 技術報告 RunLog ・2020.10 Ar 95 MeV/u RunLog ・2020.10 Kr 70 MeV/u RunLog |
準備・実施 日程表
複数社連続利用 の 準備・実施 日程表です。企業名は秘匿してあります。
※ 施設全体の
ビームタイム日程
※ 有償利用の 課題採択.実施状況 課題募集 料金表 利用申込み
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・2025.01_Xe,Ar,Kr 02_Ar,Kr 03_C,Kr
準備日程
・2024.12_Kr 準備日程 ・2024.10_Kr,Ar 準備日程 ・2024.下期 実施日程 BTreq_積残し ・2024.07_Ar 準備日程 ・2024.上期 実施日程 ・2024.02_Kr 準備日程 ・2023.下期 実施日程 ・2023.上期 実施日程 |
※ 有償利用の 課題採択.実施状況 課題募集 料金表 利用申込み
ツール集： 試験デザイン、施設設計等に便利なファイル
● ①ツール_exp：
PDF
Excel
Ebeam vs Range比較, 施設(ケーブル配線, CAMAC系回路図) 等
● ①ツール_ref_計算： PDF Excel
Bragg Peak巾比較, 施設(WobR,Bp比較,TOFreso) 等
● ①ツール_共通： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36 Xe11
ビーム通過物表, ExpR, ExpRmm, δEbeam推定, PLシンチ交換履歴 等
Ebeam vs Range比較, 施設(ケーブル配線, CAMAC系回路図) 等
● ①ツール_ref_計算： PDF Excel
Bragg Peak巾比較, 施設(WobR,Bp比較,TOFreso) 等
● ①ツール_共通： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36 Xe11
ビーム通過物表, ExpR, ExpRmm, δEbeam推定, PLシンチ交換履歴 等
ビーム調整： 利用者へ提供するファイル
● ⑤納品_ビーム調整報告： Excel:
C用
Kr用
Ar用
Xe36
納品用 ビーム調整報告 Excelブック (照射ログ：技術報告 と同じ)
● ⑤納品_TrendUser： 例: PDF Excel
納品用 ビームモニター LabView Log
● ⑥LET2ED厚計算： 使い方 C用 Ar用 Kr用 Xe36
準備用 感応層LET指定 ⇒ Edeg厚さ検索
● ⑥LET幅概算： 使い方 実測はまだ Kr用 のみ
準備用 不感層指定 ⇒ LET幅の概算
納品用 ビーム調整報告 Excelブック (照射ログ：技術報告 と同じ)
● ⑤納品_TrendUser： 例: PDF Excel
納品用 ビームモニター LabView Log
● ⑥LET2ED厚計算： 使い方 C用 Ar用 Kr用 Xe36
準備用 感応層LET指定 ⇒ Edeg厚さ検索
● ⑥LET幅概算： 使い方 実測はまだ Kr用 のみ
準備用 不感層指定 ⇒ LET幅の概算
ビーム調整： 施設側で使っているファイル
● ①準備_手順書： 例:
PDF
Excel
手順書、準備チェックリスト
● ①準備_ED選： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36
準備: scanEDic/ssd EDeg厚選定 ⇒ 2Dスペクトル予想
● ②実験_scnEDic： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36
解析シート: scanEDic ⇒ IC2 で ExpR 決定
● ②実験_scnAtt： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36
解析シート: scanAtt ⇒ IC1 vs PL1較正式 決定
● ④解析_Gaf： PDF: 集計 貼付 ppt: 集計 貼付
Gaf Film： スキャナ読込み, python解析結果 集計
● ①ツール_マニ： PDF Excel
電話帳、PC操作マニアル 等
● ①ツール_ref_ED厚： PDF Excel
施設(EDeg厚一覧, 秤量値) 等
● ①ツール_試算_ED設計： PDF Excel
施設(試算: Beam通過物 + EDeg厚組合せ) 等
手順書、準備チェックリスト
● ①準備_ED選： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36
準備: scanEDic/ssd EDeg厚選定 ⇒ 2Dスペクトル予想
● ②実験_scnEDic： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36
解析シート: scanEDic ⇒ IC2 で ExpR 決定
● ②実験_scnAtt： 例: PDF Excel: C用 Ar用 Kr用 Xe36
解析シート: scanAtt ⇒ IC1 vs PL1較正式 決定
● ④解析_Gaf： PDF: 集計 貼付 ppt: 集計 貼付
Gaf Film： スキャナ読込み, python解析結果 集計
● ①ツール_マニ： PDF Excel
電話帳、PC操作マニアル 等
● ①ツール_ref_ED厚： PDF Excel
施設(EDeg厚一覧, 秤量値) 等
● ①ツール_試算_ED設計： PDF Excel
施設(試算: Beam通過物 + EDeg厚組合せ) 等
ビーム測定値： 散乱膜でビームを広げる
● ビーム散乱膜 厚さ vs Multiple-Scatterring 角度 の 実測：
Gaf-Film測定結果 測定シート(マクロ関数付)
● 神原rep AccPR : Gafフィルム @ E5B 生物コース MS報告
"Heavy-ion irradiation test of radiochromic films", RIKEN Acc.PR 53(2019)135
● 神原rep ： Gaf報告
1904_C,Ar,Fe 2012Kr 2101Ar 2101Kr
Gaf-Film測定結果 測定シート(マクロ関数付)
● 神原rep AccPR : Gafフィルム @ E5B 生物コース MS報告
"Heavy-ion irradiation test of radiochromic films", RIKEN Acc.PR 53(2019)135
● 神原rep ： Gaf報告
1904_C,Ar,Fe 2012Kr 2101Ar 2101Kr
ビーム測定値： Wobbler電磁石でビームを広げる
● Wobbler 回転半径 vs Beam Flux分布 の 実測：
Gaf-Film測定結果一覧 : Ar,Kr,Xe ⇒ Au散乱膜
● 神原rep : 一様ビーム生成
1512Ar 1702Xe 2107C-MS1 2109C-MS2
● 神原rep ： Gaf Film の使い方
○ RIKEN AccPR : Ar,Krビーム強度分布一様性(英文)
"Formation of uniform heavy-ion beam for industrial utilization", RIKEN Acc.PR 49(2016)193
◎ フィルム「感光度：焼き具合」の調整方法
「Fluence x LET値」の目安 Gaf報告_Fluence版 図15,16 が便利
Gaf-Film測定結果一覧 : Ar,Kr,Xe ⇒ Au散乱膜
● 神原rep : 一様ビーム生成
1512Ar 1702Xe 2107C-MS1 2109C-MS2
● 神原rep ： Gaf Film の使い方
○ RIKEN AccPR : Ar,Krビーム強度分布一様性(英文)
"Formation of uniform heavy-ion beam for industrial utilization", RIKEN Acc.PR 49(2016)193
◎ フィルム「感光度：焼き具合」の調整方法
「Fluence x LET値」の目安 Gaf報告_Fluence版 図15,16 が便利
ビームモニター検出器
解析・累積
解析中の 累積データ など（スクラップ）
● ①ツール_ref_較正： PDF Excel
WobR設定, IC HV設定, TDC pul較正
● ①ツール_ref_SSD： PDF Excel
Emax検算, SSD pul較正
● ④累積_SSDテスト： PDF Excel
在庫 SSD 照射テスト結果
● ④累積_scnEDssd_： PDF pptx EGG報告
在庫 SSD 照射テスト スペクトルLog
● ①ツール_ref_較正： PDF Excel
WobR設定, IC HV設定, TDC pul較正
● ①ツール_ref_SSD： PDF Excel
Emax検算, SSD pul較正
● ④累積_SSDテスト： PDF Excel
在庫 SSD 照射テスト結果
● ④累積_scnEDssd_： PDF pptx EGG報告
在庫 SSD 照射テスト スペクトルLog